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怡信SPM-3020T(探針)全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x詳細(xì)參數(shù):
測(cè)量行程:300mm×200mm (X×Y)
工件限高:200mm (Z)
玻璃臺(tái)尺寸:340 mm×240 mm
示值系統(tǒng):怡信Easson
分辨率:0.01μm
示值精度:E = (2.0+4L/1000) μm (L單位:mm)
重復(fù)精度:± 2μm
載物臺(tái)尺寸:460 mm×360 mm
機(jī)臺(tái)承重:30kg
整機(jī)重量:280 kg
整機(jī)尺寸:1350 mm×800 mm×1700 mm
怡信SPM-3020T(探針)全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x技術(shù)優(yōu)勢(shì):
驅(qū)動(dòng)系統(tǒng):伺服馬達(dá)
控制系統(tǒng):網(wǎng)路接口主板及伺服電機(jī)以及驅(qū)動(dòng)做了全方面升級(jí),Z軸帶剎車(chē)系統(tǒng),保證機(jī)器的平穩(wěn)安全,定位更準(zhǔn)
傳動(dòng)方式:三個(gè)軸采用PMI中國(guó)臺(tái)灣精密級(jí)滾珠絲桿,速度有大提升,而且運(yùn)作平穩(wěn)。
操作方式:搖控手柄、鼠標(biāo)拖運(yùn)、程序檢測(cè)
影像系統(tǒng):日本SONY芯片高解析彩色攝影機(jī)
影像擷取卡:怡信Easson自主設(shè)計(jì)影像測(cè)量?jī)x卡
物鏡:怡信Easson自主設(shè)計(jì)TC精密多段定倍遠(yuǎn)心鏡頭
光學(xué)放大倍率:0.7×-4.5×,(0.5X,1.5X,2.0X附加鏡片)。
實(shí)際倍率:20-130X
照明系統(tǒng):USB控制40路上光源,直軸可調(diào)下光源
量測(cè)軟件:怡信Easson自主開(kāi)發(fā)Easson 2D自動(dòng)版光學(xué)視覺(jué)量測(cè)軟件
工作機(jī)臺(tái):高精度花崗巖平臺(tái)
電源:AC 220±5V、50Hz
使用環(huán)境:溫度 18-22℃、±1℃;濕度30%-80%;震動(dòng)15Hz以下<0.001g。
其他內(nèi)容:
1.測(cè)針工作原理:
測(cè)針是測(cè)量系統(tǒng)的組成部分,當(dāng)測(cè)針的測(cè)針頭與被測(cè)工件接觸時(shí),測(cè)針頭變化帶動(dòng)測(cè)頭機(jī)構(gòu)產(chǎn)生信號(hào),在經(jīng)過(guò)處理得出測(cè)量結(jié)果,達(dá)到檢測(cè)目的。
2.測(cè)針測(cè)量誤差來(lái)源
環(huán)境溫濕度,測(cè)針組成材料的剛度,測(cè)針頭的精度,測(cè)針頭與測(cè)針柄部螺紋同軸度,測(cè)針柄螺紋的精度,測(cè)針頭與被測(cè)工件接觸位置。
建議在精密測(cè)量時(shí),應(yīng)對(duì)測(cè)針進(jìn)行標(biāo)定,否則將降低測(cè)量精度。
3.測(cè)針選擇原則
1.測(cè)球直徑盡量大,已減少被測(cè)工件表面粗糙度對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。
2.測(cè)針盡量短,測(cè)針超短其彎曲或變形量越少,精度越高。
3.接頭盡量減少,每增加一個(gè)連接點(diǎn),便增加了一個(gè)潛在的彎曲和變形點(diǎn)。
4.測(cè)針連接形式
螺紋或直柄連接
5.球形螺紋連接直測(cè)針的基本機(jī)構(gòu)
測(cè)針頭、測(cè)針桿、測(cè)針柄、加長(zhǎng)桿、防撞保護(hù)座等。
探針測(cè)量包含 2 個(gè)菜單,分別為 “探針測(cè)量" 和 “三維輔助測(cè)量"。
“探針測(cè)量" 菜單主要用于進(jìn)行物體的單一測(cè)量,包含以下命令:
探針設(shè)置:進(jìn)行探針的一些常規(guī)設(shè)置,包括探針的校正等。
水平線測(cè)量:用于測(cè)量與水平面平行的直線。
水平圓測(cè)量:用于測(cè)量與水平面平行的圓。
空間點(diǎn)測(cè)量:用于測(cè)量空間上任意一點(diǎn),此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
空間線測(cè)量:用于測(cè)量空間上任意直線,此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
空間圓測(cè)量:用于測(cè)量空間上任意圓,此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
解法設(shè)定:用于設(shè)定空間點(diǎn)、線、圓的補(bǔ)償方式,如是否投影到基準(zhǔn)面等等。
高度測(cè)量:用于測(cè)量物體在 Z 方向上的距離。
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